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體積電阻率表面電阻測(cè)定儀對(duì)有些絕緣材料如橡膠以及橡膠制品,薄膜等的上述性能實(shí)驗(yàn),可按照有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行。 ATI系列觸摸屏直接讀數(shù)體積表面電阻率測(cè)試儀 LST系列數(shù)字顯示微電流測(cè)試,絕緣電阻率測(cè)試
四探針方阻電阻率測(cè)定儀硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)(ASTM F84)及國標(biāo)設(shè)計(jì)制造;GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》.
LST系列體積表面電阻率測(cè)量儀,是我公司生產(chǎn)的便攜式數(shù)字顯示高阻測(cè)量儀表,該儀表全面符合國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1410-2006固體絕緣材料體積表面電阻率試驗(yàn)方法、GB/T 31838.2-2019固體絕緣材料介電和電阻特性 第2部分:電阻特性(DC方法)體積電阻和體積電阻率、GBT2439-2001硫化橡膠或熱塑性橡膠導(dǎo)電性能和耗散性能電阻率的測(cè)定、GBT1692-2008 硫化橡膠絕緣電阻率的測(cè)定、
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半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀 電阻測(cè)量儀 儀器分為電氣箱和測(cè)試架兩部分,儀器電氣箱由直流數(shù)字電壓表、高抗干擾、高度隔離性能的電源變換裝置,高穩(wěn)定、高精度的恒流源所組成。測(cè)量結(jié)果由LED數(shù)字顯示、零位穩(wěn)定、輸入組抗高,儀器并設(shè)有自校功能,在片狀材料測(cè)試時(shí),具有系數(shù)修正功能,使用方便、測(cè)試架結(jié)構(gòu)新穎
BD-86A半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)定儀是根據(jù)四探針測(cè)試原理研制成功的新型半導(dǎo)體電阻率測(cè)試器,適合半導(dǎo)體器件廠、材料廠用于測(cè)量半導(dǎo)體材料(片狀、棒狀)的體電阻率、方塊電阻(薄層電阻),也可以用作測(cè)量金屬薄層電阻、導(dǎo)電薄層電阻,具有測(cè)量精度高、范圍廣、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便
絕緣材料的體積電阻和表面電阻測(cè)量儀器適用標(biāo)準(zhǔn):GB/T 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗(yàn)方法》;EN 1149-1-1995 《 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗(yàn)方法和要求》;GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》(與標(biāo)準(zhǔn)IEC93-1980等效);FZ/T 64013-2008 《靜電植絨毛絨》;
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